x射線熒光光譜法原理

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X射線熒光光譜法（XRF）是一種用于元素分析的技術，其原理基于X射線熒光現(xiàn)象。當高能X射線照射到樣品時，會激發(fā)樣品中的原子，使其內(nèi)層電子躍遷到外層，產(chǎn)生特征X射線熒光。這些熒光的波長或能量與樣品中元素的種類和含量有關。通過測量熒光的波長或能量，可以確定樣品中元素的種類；通過測量熒光的強度，可以確定元素的含量。XRF具有非破壞性、快速、靈敏度高等優(yōu)點，廣泛應用于地質(zhì)、環(huán)境、材料等領域。

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