icp-aes的干擾及消除

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icp-aes的干擾主要包括光譜干擾、物理干擾、化學干擾與電離干擾。其消除方法包括干擾系數法、多譜線擬合程序、背景校正技術、基體匹配法等。
icp-aes的干擾：
1.光譜干擾：
光譜干擾是ICP-AES分析中最常見的問題，主要是由于儀器的色散率和分辨率不足導致元素間的譜線重疊。
此類干擾分為譜線重疊干擾和背景干擾。譜線重疊干擾可以通過選擇分辨率更高的分光系統(tǒng)來減少，而背景干擾則可以通過現代儀器具備的背景校正技術來扣除。
2.物理干擾：
物理干擾主要涉及溶液的粘度、比重和表面張力等物理性質對分析結果的影響。
這種干擾可以通過保持標準試液與待測試樣在基體組成、總鹽度、有機溶劑和酸的濃度等方面的一致性來減輕。
使用蠕動泵進樣和內標校正法也可以補償物理干擾的影響。
3.化學干擾：
在ICP-AES中，化學干擾相對較少，通?？梢院雎圆挥?。
這是由于ICP的高溫和高電子數密度使得樣品中的化學鍵很容易被破壞，減少了化學干擾的可能性。
4.電離干擾：
電離干擾涉及到樣品中易電離元素對分析結果的影響。
盡管ICP比其他光源受此影響較小，但在某些情況下仍需優(yōu)化等離子體參數或使用雙向觀察技術來減少此類干擾。
icp-aes的干擾消除方法：
1.干擾系數法：
通過實驗確定干擾元素對分析元素的影響程度，并計算干擾系數。
在知道干擾元素濃度的情況下，可以利用干擾系數來校正分析結果。
2.多譜線擬合程序：
當存在復雜譜線重疊時，單一干擾系數可能無法準確校正，此時需要采用多譜線擬合程序來進行更復雜的校正。
3.背景校正技術：
利用先進的背景校正技術可以有效扣除由于連續(xù)發(fā)射形成的帶狀光譜疊加在分析線上的背景干擾。
4.基體匹配法：
通過模擬樣品的基體組成，制備與待測樣品相似的標準溶液，以消除基體效應的干擾。
5.標準加入法：
將已知量的標準溶液加入到樣品中，觀察分析信號的變化，以此來確定樣品中目標元素的濃度，可以減少基體效應的影響。
6.內標校正法：
選擇一種與分析元素行為相似的元素作為內標，對其進行同步測量，以校正樣品處理過程中可能引入的誤差。
7.分離技術：
在樣品前處理階段應用分離技術，如萃取、色譜等，以去除或減少干擾物質的濃度，減輕或消除基體干擾。

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